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01

样品与前置条件

  1. 待区分的组织尺度、相、晶体对称与可制样条件。
  2. 电子能量、厚度、会聚/进动角、相机标定或PC。
02

建议工作流

  1. 明确要测方向、取向、结构对称、应变还是缺陷衬度；不同目标不能只按速度排序。
  2. 从倒易基和相对论波长构造Ewald几何，解释厚度造成的倒易杆与激发误差。
  3. SAED记录取样区域；CBED关注盘内强度和会聚；PED记录去扫描与积分，避免称其完全运动学。
  4. SEM路线核对倾角/PC，TKD路线核对薄片厚度及投影重叠，不能仅以束斑直径称空间分辨率。
  5. 用已知相、可靠坐标和几何进行索引；若强度或弱反射用于结构判别，采用适合的动力学模型。
  6. 导出取向时同时保留质量、几何与厚度/重叠限制，再进入统计。
03

结果怎么解释

  1. 高分辨率不意味着取样代表性更强。
  2. 复杂花样中的强弱不必等于运动学结构因子排序。
04

局限与常见误区

  1. 薄片松弛或叠层会改变与块材的对应。
  2. 历史书中的速度和固定分辨率不能代替当前仪器条件。

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。

Olaf Engler; Stefan Zaefferer; Valerie Randle：《Introduction to Texture Analysis: Macrotexture, Microtexture, and Orientation Mapping》（2024，第 3 版）对应理论见完整推导与三书章节索引；参数应结合具体采样与材料条件。Valerie Randle：《Microtexture Determination and Its Applications》（2003，第 2 版；所供本含 2008 年平装版说明）对应理论见完整推导与三书章节索引；参数应结合具体采样与材料条件。R.R. KELLER; R.H. GEISS (2012). Transmission EBSD from 10 nm domains in a scanning electron microscope对应理论见完整推导与三书章节索引；参数应结合具体采样与材料条件。Aimo Winkelmann (2008). Dynamical effects of anisotropic inelastic scattering in electron backscatter diffraction对应理论见完整推导与三书章节索引；参数应结合具体采样与材料条件。