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样品与前置条件
- 已核对坐标与质量的取向图。
- 物理步长、晶粒重构角、最小区域与孪晶规则。
建议工作流
- 定义要统计的是晶粒、亚晶、板条、集束还是重构母相。
- 分相重构,明确角阈值、邻接规则和缺失区域处理。
- 标记边缘截断晶粒与像素不足区域,记录排除数量和面积。
- 计算 A、ECD、长径比、Feret 或方向截线等适合问题的指标。
- 分别说明数目平均和面积加权;对拉长组织保留方向信息。
- 若分析邻接,定义角点接触、短边与相界是否计入。
- 输出分布、有效范围与示意图;不要将二维 ECD 自动称为三维粒径。
结果怎么解释
- 小晶粒筛除可能真实改变分布,需报告。
- 周长和圆度对网格与边界平滑特别敏感。
局限与常见误区
- 二维截面和边缘截断带来体视学限制。
- 孪晶合并应与研究目标一致。
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。
Olaf Engler; Stefan Zaefferer; Valerie Randle:《Introduction to Texture Analysis: Macrotexture, Microtexture, and Orientation Mapping》(2024,第 3 版)对应原理与参数解释见本专题完整推导正文;软件操作以所用版本帮助为准。↗Valerie Randle:《Microtexture Determination and Its Applications》(2003,第 2 版;所供本含 2008 年平装版说明)对应原理与参数解释见本专题完整推导正文;软件操作以所用版本帮助为准。↗