阅读设置
01

样品与前置条件

  1. 同相可靠取向及晶粒 ID。
  2. 步长、邻域、阈值、参考取向、降噪和角度单位。
02

建议工作流

  1. 用完整旋转与正确晶体对称求两点错取向，勿相减 Euler 角。
  2. 定义核的实际邻点和物理距离，限制相与必要的晶粒 ID。
  3. 设置 θcut，排除后重新计算分母；无有效邻点记为缺失。
  4. 选择 GROD 参考，按已声明定义计算 GOS 和 GAM；保存每粒像素数与尺寸。
  5. 在线扫中分别画逐点差、相对参考差，若累加路径则单独命名。
  6. 比较时统一色标和物理邻域，解释噪声与清理的影响。
  7. 只把这些量解释为指定条件下的取向差；更强的应变或再结晶判断需补证。
03

结果怎么解释

  1. KAM 增大不代表塑性应变按比例增加。
  2. GOS 与晶粒长度有关，GAM 与局部距离有关。
04

局限与常见误区

  1. 不同文献的 GOS 名称可能不一致，必须核对公式。
  2. 小角旋转轴可能远比角度不稳定。

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。

Olaf Engler; Stefan Zaefferer; Valerie Randle：《Introduction to Texture Analysis: Macrotexture, Microtexture, and Orientation Mapping》（2024，第 3 版）对应原理与参数解释见本专题完整推导正文；软件操作以所用版本帮助为准。MTEX：Kernel Average Misorientation对应原理与参数解释见本专题完整推导正文；软件操作以所用版本帮助为准。 官方定义、邻域阶数、阈值和晶粒 ID 的作用。示例参数属于示例材料。MTEX：Grain Orientation Parameters对应原理与参数解释见本专题完整推导正文；软件操作以所用版本帮助为准。 GOS 采用相对晶粒均值取向的平均偏离角；GAM 与 GROD 分开定义。Masayuki Kamaya (2011). Assessment of local deformation using EBSD: quantification of accuracy of measurement and definition of local gradient对应原理与参数解释见本专题完整推导正文；软件操作以所用版本帮助为准。