样品与前置条件
- 具有足够代表性和均匀性的粉末或平整表面
- 粒度和装样方式尽量减小择优取向
- 选择适合基体和目标的辐射源与几何
建议工作流
- 用适合用途的标准参考物检查线位和线形
- 记录辐射源、光学、范围、步长和时间
- 完成背景、Kα2 或仪器贡献等透明处理
- 基于完整峰组进行物相匹配
- 定量或残余应力分析时报告模型、拟合质量和不确定度
结果怎么解释
- 峰位偏移可能来自成分、应力或样品位移
- 峰宽包含尺寸、微应变和仪器贡献
- 定量相分析需要考虑无定形相与择优取向
局限与常见误区
- 低含量相可能低于检出能力
- 峰重叠使复杂多相体系难以唯一识别
- 表层结果可能不代表厚度方向整体
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。