晶体学：EBSD 测量
扫描设计：步长、视场、图样分辨率与取样统计
把科学问题转换成扫描方案，平衡薄 β 分辨、宏区覆盖、角精度与时间。
阅读设置
先记住这三点
- 步长小于特征尺寸不保证已分辨该特征
- 局部精扫与大视场扫描回答不同问题
- 索引率不能单独评价数据质量
由问题决定尺度
量 α 晶粒需要足够像素覆盖单个晶粒；量薄 β、细孪晶或片层需要更高空间分辨；识别宏区又需要覆盖远大于单晶粒的区域。先做小范围探索，再决定精扫与多区域统计设计。
可把最小目标特征宽度、有效分辨率、步长与预计像素数列在计划中。连续插值或更密网格不能恢复被相互作用体积混合掉的信息。
采集参数彼此耦合
束流、加速电压、曝光、图样尺寸、binning、背景和扫描速度共同决定信噪比、漂移、角精度和空间信息。不存在适用于所有钛合金的固定电压或步长。
高索引率可能来自过宽的匹配容差或错误候选相。要同时检查残差、图样质量、空间一致性、原始图样复核和细相是否漏检。
设计可比较的研究
每个条件覆盖多个独立区域与试样，记录选择方法，避免只扫描最容易索引的区域。统计重复单位应按独立试样或区域定义，不能把相邻百万像素当作百万独立实验。
对 GND 比较要固定物理邻域、步长与角噪声处理；对织构比较要统一相、区域面积与权重；对原位扫描要记录漂移、载荷状态和配准误差。
来源与延伸阅读
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[C02] Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (2009)EBSD 原理、取向成像、晶界与应用的多作者参考书。 第二版；硬件与软件性能须查当前设备，不能把书中实例当作统一分辨率。↗[C13] Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: Effects of detector binning and step size (2013)研究探测器合并像素与扫描步长对 HR-EBSD GND 测量的影响。 比较不同数据集前统一空间和角分辨率，并报告噪声底。↗[C12] A Review of Strain Analysis Using Electron Backscatter Diffraction (2011)综述 EBSD 应变分析的假设、参数敏感性和限制。 区分弹性应变、晶格转动及塑性变形代理量；KAM 不是通用应变标尺。↗