阅读设置
样品与前置条件
- 独立记录牌号、炉批、热历史与取样位置
- 表面应平整并尽量减少加工损伤、污染与相间起伏
建议工作流
- 定义目标:薄 β、晶粒、宏区或取向梯度,并列所需尺度。
- 小区域试扫,检查图样、漂移、有效分辨率及每相可靠性。
- 选择步长、曝光、图样尺寸和多个独立视场,保留参数。
- 保存好点、坏点、界面及少数相图样;需重索引时保存完整图样。
- 冻结原始数据,导出质量图与参数,再进入清理。
结果怎么解释
- 索引率与空间分辨率不是同一个指标
- 大视场与精细扫描宜按问题组合
局限与常见误区
- 更小步长不能消除相互作用体积混合
- 不提供跨设备通用采集配方
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。
[C02] Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (2009)EBSD 原理、取向成像、晶界与应用的多作者参考书。 第二版;硬件与软件性能须查当前设备,不能把书中实例当作统一分辨率。↗[C13] Measurement of geometrically necessary dislocation density with high resolution electron backscatter diffraction: Effects of detector binning and step size (2013)研究探测器合并像素与扫描步长对 HR-EBSD GND 测量的影响。 比较不同数据集前统一空间和角分辨率,并报告噪声底。↗[C12] A Review of Strain Analysis Using Electron Backscatter Diffraction (2011)综述 EBSD 应变分析的假设、参数敏感性和限制。 区分弹性应变、晶格转动及塑性变形代理量;KAM 不是通用应变标尺。↗