晶体学：数据解释
晶粒、片层、集束与原 β：统计对象必须先定义
统一钛合金显微组织中的尺度与分割规则，避免所有尺寸都被称为“晶粒度”。
阅读设置
先记住这三点
- 取向分割晶粒不一定等于形貌片层
- 晶粒、集束、宏区和原 β 不是同一对象
- 阈值、边缘粒与加权方式影响均值
先回答量的是什么
等轴初生 α、转变 α 片层、同取向集束、原 β 晶粒与微织构区描述不同组织层级。一个原 β 晶粒可以生成多个变体；一组相近取向的片层可能被软件合并成一个取向晶粒。
报告应给出对象定义、相、切面与尺度。等效圆直径不能替代片层厚度，二维截面长宽比也不能直接等于三维形貌。
分割参数进入测量定义
取向差阈值、最小像素数、是否合并孪晶、边缘晶粒处理和未索引洞填充会改变分布。报告数量加权与面积加权的统计方式，并提供分布而不只给平均值。
步长过大会漏掉小晶粒，最小像素过滤又会进一步抬高均值。比较不同工艺时应统一采集与统计规则，或明确做尺度校正。
标准的适用范围
ASTM E2627 的公开范围针对完全再结晶多晶材料。用它讨论 EBSD 晶粒测量时，应先确认对象与前提；不能直接把片层集束或重构原 β 的结果写成该标准下的验收晶粒度。
对原 β 尺寸，需额外报告重构置信度、未重构面积和错误合并风险。二维统计应通过多个位置或三维信息验证代表性。
来源与延伸阅读
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ASTM E2627-13(2019) · EBSD 晶粒度本次核对的官方版本入口；适用范围为完全再结晶多晶材料。片层集束、原 β 重构或严重变形组织不能直接套用。项目采用版本须另行确认。↗[C05] Reliability of reconstructed β-orientation maps in titanium alloys (2007)讨论由子相取向恢复钛合金原 β 取向与边界的可靠性。 重点检查有限变体和特殊相邻母相关系造成的重构歧义。↗[C02] Electron Backscatter Diffraction in Materials Science (2009)EBSD 原理、取向成像、晶界与应用的多作者参考书。 第二版；硬件与软件性能须查当前设备，不能把书中实例当作统一分辨率。↗