晶体学：反演与高阶分析
滑移迹线与 Schmid 分析：从一条线到候选滑移系
将表面几何、晶体取向与原位转动联立，识别哪些结论能唯一确定。
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先记住这三点
- 迹线方向 t ∥ n表面 × R n晶面
- 迹线主要约束滑移面而非滑移方向
- 多候选解应保留
计算表面迹线
在统一试样坐标系中，将晶面单位法向旋转为 nₛ=R n꜀，与表面法向 N 叉乘得到迹线 t=N×nₛ。若晶面近似平行表面，叉积模长很小，迹线方向对误差极敏感。
SEM 高倾角图与平面 EBSD 地图之间存在投影与配准差异。先更正方向与几何，再比较线角，不能直接把屏幕角度当作样品表面的角度。
候选筛选而非一键定论
逐个计算合法基面、柱面与锥面候选，比较实测角度及误差区间。再计算分切应力和 CRSS 相关信息；同一面内不同滑移方向可能产生同一迹线。
只凭最高 Schmid 因子选择滑移系会忽略局部应力、邻晶约束和硬化。表面凸起、孪晶或制样划痕也可能与滑移带混淆。
提高证据分辨力
原位 EBSD 的转动轴可帮助约束滑移方向，HR-DIC 给局部位移/应变，AFM 或 TEM 可补充台阶与位错证据。多滑移时反演不一定唯一。
报告每个晶粒的候选面、方向可辨识程度、角差、坐标和载荷，不把“相容迹线”写成“已证明唯一滑移系”。
来源与延伸阅读
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[C08] In situ EBSD investigation of deformation processes and strain partitioning in bi-modal Ti-6Al-4V using lattice rotations (2019)用原位 EBSD 晶格转动和滑移迹线研究双态 Ti-6Al-4V 的变形分配。 关注转动轴与迹线如何互证；多滑移和刚体转动会限制反演。↗[C11] Tutorial: Crystal orientations and EBSD — Or which way is up? (2016)建立试样、晶体、极图和衍射屏幕坐标的一致性检查。 导入数据先验证方向和手性；显示地图旋转与晶体取向变换是两件事。↗[C03] Titanium (2007)连接钛合金相结构、加工、组织与性能。 第二版；先区分 α、α+β 和亚稳 β，再分析具体牌号和热历史。↗